مشخصه یابی نانو ساختارها

در این کتاب روش‌های متداول آنالیز و مشخصه‌یابی نانوساختارها در شش فصل بحث شده‌اند. در فصل اول مقدمه‌ای بر نانوساختارها ارائه شده است. فصل‌ دوم روش‌های میکروسکوپی شامل میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)، میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) و میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM) را مورد بررسی قرار داده است. در فصل‌ سوم، روش‌های طیف‌سنجی الکترونی شامل طیف‌سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)، طیف‌سنجی الکترونی اوژه (AES)، طیف‌سنجی تفکیک انرژی پرتو ایکس (EDS) و طیف‌سنجی تفکیک طول‌موج پرتو ایکس (WDS) به رشته تحریر درآمده‌اند. فصل چهارم روش‌های طیف‌سنجی غیرالکترونی شامل طیفسنجی مادونقرمز تبدیل فوریه (FTIR)، طیفسنجی بازتاب کلی ضعیفشده مادون‌قرمز تبدیل فوریه (ATR-FTIR)، طیفسنجی رامان، طیفسنجی فرابنفش - مرئی - مادون‌قرمز نزدیک (UV-Vis-NIR)، طیف سنجی فرابنفش - مرئی بازتاب انتشاری (UV-Vis DRS)، طیفسنجی رزونانس پارامغناطیسی الکترون (EPR)، طیف‌سنجی فوتوالکترون فرابنفش (UPS) و فوتولومینسانس (PL) را در بر می‌گیرد. روش‌های حرارتی و ترمودینامیکی شامل آنالیز سنجش‌وزن حرارتی (TGA)، آنالیز حرارتی تفاضلی (DTA)، کالریمتری روبشی تفاضلی (DSC)، کاهش/اکسایش با دمای برنامه‌ریزی‌شده (TPR/TPO)، واجذب با دمای برنامه ریزی‌شده (TPD) و جذب - واجذب گاز در فصل پنجم آورده شده‌اند و در نهایت در فصل ششم روش‌های پراش و پراکندگی شامل پراش پرتو ایکس (XRD) و پراکندگی دینامیکی نور (DLS) بحث شده‌اند. همه تکنیک‌ها در یک الگوی ثابت مشتمل بر 1- تئوری و اصول؛ 2- ساختمان دستگاهی؛ 3- آماده‌سازی نمونه؛ 4- کاربردهای عملی؛ 5- مزایا و محدودیت‌ها؛ 6- پرسش‌های مروری و 7- مطالعه بیشتر نگاشته شده‌اند. ×××× این کتاب در جشنواره کتاب سال دانشجویی 96 به عنوان کتاب نخست دربخش فنی مهندسی انتخاب شد